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自动绝对反射率测量系统

自动绝对反射率测量系统

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产品名称: 自动绝对反射率测量系统

英文名称: Polarizer

产品编号: ARMV734/735

产品价格: 0

产品产地: 日本分光(株)/JASCO

品牌商标: JASCO

更新时间: null

使用范围: null

沈阳佳士科商贸有限公司
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概要

  自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。

可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

 

 

装置特点

PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
测量范围广,从紫外到近红外区域
双光束光学系统,测光稳定性好
可分别控制入射角、受光角
标配偏光测量功能
专用的样品池支架,样品的装卸简单

 

规格

ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射测量组件V-600用)

型号

ARMV-734

ARMN-735

测定波长范围

250850nm

2502000nm

测量方式

测量绝对反射率、测量

入射角

 60°(测量绝对反射率)、 60°(测量) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

角度间隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期(入射部和受光部)

测量偏光

偏光( 0°)偏光( 90°)偏光( 45°)、任意设定

ARMV-734用于V-650,660ARMN-735用于V-670


 

VAR-7010/7020/7030 自动绝对反射测量组件V-7000用)

型号

VAR-7010

VAR-7020

VAR-7030

测量波长范围

250900nm

2502000nm

2501800nm

测定方式

测量绝对反射率测量透过率

入射角

 60°(测量绝对反射率)、 60°(测量透过) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

角度間隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期(入射部和受光部)

测量偏光

偏光( 0°)偏光( 90°)偏光( 45°)

VAR-7010用于V-7100VAR-7020用于V-7200 VAR-7030用于V-7300