多年来，扫描探针图像处理软件SPIP™，已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的创始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就开始在其工科博士研究部分项目中开发SPIP™图像处理软件。期间曾与IBM及丹麦基础计量研究所及丹麦科技大学等单位合作开发SPIP™软件。

在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中，物理，材料科学，化学，生物学，计量学技术，纳米技术等很多领域。

SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微（SPM），干涉显微镜，扫描电子显微镜（SEM），共聚焦显微镜，光学显微镜，和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。更与aep Technolongy等从事表面研究仪器开发的知名公司合作，完美结合NanoMap三维轮廓仪，白光干涉仪，激光共聚焦显微镜，原子力显微镜（AFM）等多种微观表面研究仪器。

无论你是资深的用户或者是刚刚入门的图像处理的初学者。使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可得到您需要的分析结果。

SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件，提供包括一个基础软件分析模块和13个可选的附加模块。基础模块包含必要的基本特征分析，例如文件读取、数据分析、平面校正等功能。附加模块则是为针对某些特定功能测试提供，包括归一化校准、降低噪声、分析、3D构建。在随后的彩页中你会发现各项功能的详细介绍。从中您可以学到如何提高您工作的效率和质量。

¨      扫描探针显微镜（SPM）

¨      扫描电子显微镜（SEM）

¨      透射电子显微镜（TEM）

¨      干涉仪

¨      共焦显微镜

¨      三维轮廓仪